Verificación a Nivel de Sistema
DATOS DE LA ASIGNATURA
Datos de la asignatura
| Asignatura | Verificación a Nivel de Sistema |
|---|---|
| Titulacion | Máster Universitario en Microelectrónica: Diseño y Aplicaciones de Sistemas Micro/Nanométricos (2026) |
| Ciclo | 2 |
| Curso | 1 |
| Carácter | Optativa |
| Duración | Cuatrimestral (Segundo Cuatrimestre) |
| Créditos Totales | 6.00 |
| Departamento Responsable | ELECTRÓNICA Y ELECTROMAGNETISMO |
| Departamento con Docencia | ELECTRÓNICA Y ELECTROMAGNETISMO |
